BS EN 60749-4-2002 半导体器件.机械和气候试验方法.湿热、稳态态、高加速应力试验(HAST)

作者:标准资料网 时间:2024-05-03 10:59:11  浏览:8548   来源:标准资料网

【英文标准名称】:Semiconductordevices-Mechanicalandclimatictestmethods-Dampheat,steadystate,highlyacceleratedstresstest(HAST)
【原文标准名称】:半导体器件.机械和气候试验方法.湿热、稳态态、高加速应力试验(HAST)
【标准号】:BSEN60749-4-2002
【标准状态】:现行
【国别】:英国
【发布日期】:2002-09-10
【实施或试行日期】:2002-09-10
【发布单位】:英国标准学会(BSI)
【起草单位】:BSI
【标准类型】:()
【标准水平】:()
【中文主题词】:气候试验;半导体器件;集成电路;电学测量;振动;气候;环境试验;组件;电子工程;电气工程;试验;半导体;电子设备及元件;机械试验
【英文主题词】:
【摘要】:ThispartofIEC60749providesahighlyacceleratedtemperatureandhumiditystresstest(HAST)forthepurposeofevaluatingthereliabilityofnon-hermeticpackagedsemiconductordevicesinhumidenvironments.
【中国标准分类号】:L40
【国际标准分类号】:31_080_01
【页数】:12P;A4
【正文语种】:英语